E+H压力变送器的测量原理

E+H压力变送器测量原理

1     大气压(表压测量单元)

2      陶瓷基板

3      电极

4      陶瓷膜片

 

陶瓷测量单元无油,压力直接作用在坚固耐用的陶瓷膜片上,导致膜片发生形变。陶瓷基板电极 和膜片检测与压力成比例关系的电容变化量。量程取决于陶瓷膜片的厚度。

优点:

 最大抗过载能力为 40 倍标称压力

 采用 99.9%超纯陶瓷(Ceraphire®,参见“www.endress.com/ceraphire”)

 可与合金 C 媲美的超高化学稳定性

 高机械稳定性

 适用于高真空场合

PMP51

过程压力使膜片发生形变,填充液将压力传输至电阻桥路上(半导体技术)。测量与压力变化相 关的桥路输出电压,并进行后续计算处理。

优点:

 可在过程压力不超过 400 bar (6 000 psi)的条件下使用

 高长期稳定性

 最大抗过载能力为 4 倍标称压力

 与隔膜密封系统相比,热效应显著降低

PMP55

工作压力作用在隔膜密封系统的膜片上,填充液将压力传导至测量单元的膜片。膜片变形,填充 液将压力传输至电阻桥路上。测量与压力变化相关的桥路输出电压,并进行后续计算处理。

优点:

 允许在过程压力不超过 400 bar (6 000 psi)的工况和高温工况下测量(取决于仪表型号)

 高长期稳定性

 最大抗过载能力为 4 倍标称压力

液位测量(液位,体积,质量)

优势

 设备软件提供不同的液位测量模式

 通过用户自定义特征曲线可以测量任意形状液罐中介质的体积和质量

 提供多种液位单位

 有多种用途,即使是在下列情况下:

 泡沫液面

 带屏蔽装置搅拌器的罐体

 液化气体

使用表压测量单元进行电子差压测量

在实例中,两台 Cerabar M 设备(每台均带有表压测量单元)互连。因此可使用两台独立的 Cerabar M 设备测量差压。

应用

仪表可以进行下列测量:

 在所有过程领域和过程测量技术中进行气体、蒸汽或液体的绝压和表压测量

 液体的液位、体积和质量测量

 高过程温度

 不带膜片密封圈,最高为 130 °C (266 °F),150 °C (302 °F)最长 60 分钟

 带膜片密封圈,最高为 400 °C (752 °F)

 最大压力:400 bar (6 000 psi)

 已获得广泛认可,可在全球使用

优势

 优秀的重复性和长期稳定性

 高参考测量精度:最高达±0.10 %, 铂金型:±0.075 %

 最大量程比为 100:1

 标准化平台,适用于差压变送器、静压变送器和压力变送器(Deltabar M – Deltapilot M – Cerabar M)

 借助专为实际应用打造的用户界面,让调试更轻松、更快捷

 过程压力监控的最高安全等级为 SIL 2,通过 TÜV NORD 认证,符合 IEC 61508 2.0 版和 IEC 61511 标准

 隔膜密封系统采用专利的 TempC 膜片,有效降低了环境温度和过程温度变化引 起的测量误差。

 提供符合 ASME-BPE 标准的仪表型号

应用场合

 表压和绝压

 液位

过程连接

PMC51:

 螺纹

 EN DN 25...80 法兰

 ANSI 1"...4"法兰

• JIS 50 A...100 A 法兰

 齐平安装的卫生型连接

PMP51:

 螺纹

 EN DN 25...80 法兰

 ANSI 1"...4"法兰

 用于安装隔膜密封系统

 齐平安装的卫生型连接

PMP55:

多种隔膜密封系统

量程

 

过压限定值(OPL)

 PMC51:最大 60 bar (900 psi)

 PMP51:最大 600 bar (9 000 psi)

 PMP55:最大 600 bar (9 000 psi)

过程温度范围

 PMC51: –20 … +130 °C (–4 … +266 °F) +150 °C (+302 °F),最长 60 分钟

 PMP51 –40 … +130 °C (–40 … +266 °F) +150 °C (+302 °F),最长 60 分钟

 PMP55: –70 … +400 °C (–94 … +752 °F) (取决于填充液)

环境温度范围

 不带 LCD 液晶显示:  –40 … +85 °C (–40 … +185 °F)

  LCD 液晶显示:  –20 … +70 °C (–4 … +158 °F)

(在扩展温度应用范围–40 … +85 °C (–40 … +185 °F)内光学属性受影响,例如,显示速度和显 示对比度)

 带分离型外壳:   –20 … +60 °C (–4 … +140 °F)

 PMP55:隔膜密封系统与仪表型号相关

参考测量精度

 PMC51:最高精度为设定量程的±0.10%  铂金型:最高精度为设定量程的±0.075%

 PMP51:最高精度为设定量程的±0.10%  铂金型:最高精度为设定量程的±0.075%

 PMP55:最高精度为设定量程的±0.10%

供电电压

 11.5 … 45 VDC   (带连接插头的型号:35 VDC

 本安型设备:11.5 … 30 VDC

 IO-Link 通信:最低 18 VDC    (电流输出替代 IO-Link 通信时:11.5 … 30 VDC

输出

4...20 mA、4...20 mA HART、IO-Link、PROFIBUS PA 或 FOUNDATION Fieldbus

选项

 检测证书 2.2 或 3.1 或其它证书

 3A 认证和 EHEDG 认证

 专用固件版本

 仪表初始设置

 分离型外壳

 多种附件

 NACE 认证材料

特点

 PMC51:

 PVDF 非金属材质的过程连接

 变送器的除油脂清洗,可以在油漆车间中使用

 PMP51:

 过程连接,具有最小体积的填充液

 气密保护,不使用橡胶密封圈

 PMP55:

 多种隔膜密封系统

 适用于测量高温介质

 过程连接,具有最小体积的填充液

 全焊接式设计

 PMC51:从–100/0...100 mbar (–1.5/0...1.5 psi)到–1/0...40 bar (–15/0...600 psi)

 PMP51:从–400/0...400 mbar (–6/0...6 psi)到–1/0...400 bar (–15/0...6000 psi)

 PMP55:从–400/0...400 mbar (–6/0...6 psi)到–1/0...400 bar (–15/0...6000 psi)

创建时间:2023-11-07
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